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更新日期：2024-12-02訪問量：2350廠商性質(zhì)：代理商
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Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE

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更新日期：2024-12-02訪問量：3062廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
Bruker FilmTek CD橢偏儀

Bruker FilmTek CD橢偏儀 ——多模態(tài)臨界尺寸測量和先進薄膜計量學(xué) FilmTekTM CD光學(xué)臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設(shè)計節(jié)點及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統(tǒng)同時提供已知和*未知結(jié)構(gòu)的實時多層堆疊特性和CD測量。 FilmTek CD利用多模測量技術(shù)來滿足與開發(fā)和生產(chǎn)中最復(fù)雜的半導(dǎo)體設(shè)計特征相關(guān)的挑戰(zhàn)性需求。

更新日期：2024-12-02訪問量：2861廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV

Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV FilmTek™ 2000M TSV計量系統(tǒng)為先進的半導(dǎo)體封裝應(yīng)用提供了速度和精度組合。該系統(tǒng)為各種封裝工藝和相關(guān)結(jié)構(gòu)的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分布層（RDL）。

更新日期：2024-12-02訪問量：2655廠商性質(zhì)：代理商
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